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PDF/月刊誌論文/code:pg_0710_01マテリアル インテグレーション 2007年10月号
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PDF/月刊誌論文/code:pg_0710_01 マテリアル インテグレーション 2007年10月号
INTER MATERIAL 原子・電子レベルからの材料界面設計
先進電子顕微鏡観察によるセラミックス粒界の解明と設計
■著者
東京大学大学院工学系研究科総合研究機構 柴田 直哉 他
■要約
近年,電子顕微鏡のレンズ収差を補正する技術が開発され,電子顕微鏡の分解能及び感度を飛躍的に向上する道が開かれた.この収差補正技術と原子直視を可能にする走査透過型電子顕微鏡法 (STEM) とを組み合わせることにより,材料内部のドーパント元素を原子レベルで可視化する技術が急速に進んでいる.本稿では,このSTEM法を用いたセラミックス粒界の超高分解能構造解析と機能発現メカニズムに関する最新の研究例を紹介する.
